欽州導(dǎo)桿壓降測(cè)試儀陽(yáng)極澆鑄質(zhì)量檢測(cè)儀ZA-500T中銳使用方法

更新時(shí)間：2024-02-22 10:22:01 瀏覽數(shù)：98
所屬行業(yè)：儀表儀器>實(shí)驗(yàn)儀器裝置>其他實(shí)驗(yàn)儀器裝置
發(fā)貨地址：青島
產(chǎn)品型號(hào)：ZA
供應(yīng)數(shù)量：99臺(tái)
包裝說(shuō)明：鋁合金箱
單價(jià)：200.00元/臺(tái)

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產(chǎn)品詳情

< align="left" style="margin-to:0x;margin-bottom:0x;-webkit-ta-highlight-color:rgba(0, 0, 0, 0);box-sizing:border-box;adding:0x;color:#333333;background-color:#FFFFFF;font-family:null;"> ZA-500T電解槽鐵碳?jí)航禍y(cè)試儀
導(dǎo)桿壓降測(cè)試儀是一種用于測(cè)量導(dǎo)桿在特定電壓下的電阻和壓降的儀器。它采用先進(jìn)的電子，度高，操作簡(jiǎn)便，是電力、電子、電器制造、科研開發(fā)等行業(yè)中必備的測(cè)試工具。該儀器可廣泛應(yīng)用于導(dǎo)桿的選型、生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制以及老化測(cè)試等環(huán)節(jié)。使用導(dǎo)桿壓降測(cè)試儀，可以確保設(shè)備的正常運(yùn)行，提高生產(chǎn)效率，降低安全風(fēng)險(xiǎn)。在電解鋁生產(chǎn)行業(yè)，電解槽壓降是關(guān)系能耗的一個(gè)重要指標(biāo)，通過(guò)了解壓降知道電解槽的質(zhì)量，
我公司針對(duì)這種情況研發(fā)生產(chǎn)電解槽壓降測(cè)試儀，可以檢測(cè)電解槽陽(yáng)極導(dǎo)桿壓降
可根據(jù)測(cè)試電壓來(lái)反應(yīng)陽(yáng)極導(dǎo)桿上電流情況，鐵碳模塊(陽(yáng)極炭塊、陰極炭塊)及鋼棒頭
焊接的組裝質(zhì)量,以便篩查選用合格的鐵碳模塊，為電解鋁企業(yè)節(jié)省大量的電費(fèi)。同時(shí)根據(jù)測(cè)量數(shù)
據(jù)對(duì)不合格的電解槽進(jìn)行處理。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAccetanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecie自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。設(shè)備具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、導(dǎo)出功能，降低工人勞動(dòng)強(qiáng)度，提率。
二、性能特點(diǎn)
1、設(shè)備電流大精精度高，一鍵式操作，自動(dòng)化程度高。
2、采用電子式原理線路結(jié)合DSP采用大屏幕漢字液晶顯示，所有操作均由漢字菜單提示。
3、數(shù)據(jù)具備掉電存貯及瀏覽功能，能與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)傳送數(shù)據(jù)
3、數(shù)據(jù)記錄、查詢、刪除功能：設(shè)備具備測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)記錄，對(duì)歷史數(shù)據(jù)可查閱；
4、數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能：儀表通過(guò)數(shù)據(jù)線連接到電腦上，進(jìn)行數(shù)據(jù)儲(chǔ)存、編譯；
5、具有優(yōu)異的扛電磁干擾性能，在電解槽強(qiáng)磁干擾的工作環(huán)境中，依然保證儀器的精度。
三、參數(shù)
1、量程：0-1000mv 分辨率：0.01mv&nbs; 精度：0.5﹪，
2、電流：0-200000A（客戶選定）
3、顯示:10寸彩色液晶屏
TI提供行業(yè)款也是一款規(guī)模量產(chǎn)的單芯片CMOS毫米波傳感器。傳統(tǒng)汽車?yán)走_(dá)系統(tǒng)的局限性已經(jīng)眾所周知，傳統(tǒng)雷達(dá)缺乏分辨率，無(wú)法分辨附近的物體。此外，雷達(dá)系統(tǒng)還常常發(fā)出報(bào)，并且它們始終無(wú)法足夠快地處理信息，以滿足高速應(yīng)用。不過(guò)，汽車也認(rèn)識(shí)到雷達(dá)的優(yōu)點(diǎn)，尤其是它們能夠在各種天氣條件下工作的優(yōu)勢(shì)。他們認(rèn)為雷達(dá)可以和視覺傳感器一起協(xié)作，作為高度自動(dòng)化車輛中的關(guān)鍵傳感。人們已經(jīng)充分了解了雷達(dá)系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)，那么問(wèn)題來(lái)了，雷達(dá)該往什么方向發(fā)展呢？TexasInstruments（TI，德州儀器）希望用基于其標(biāo)準(zhǔn)芯片來(lái)回答這個(gè)問(wèn)題。不需要“先進(jìn)”數(shù)字測(cè)試性能；但對(duì)于測(cè)試靈活性和功能的需求較大的情況，高速數(shù)字模塊則尤其重要。測(cè)試系統(tǒng)和相關(guān)的數(shù)字子系統(tǒng)可以支持傳統(tǒng)和當(dāng)代電子組件組合的測(cè)試，因?yàn)檫@種測(cè)試系統(tǒng)被廣泛用于現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)產(chǎn)品以及在工廠中測(cè)試新代產(chǎn)品。更具體地說(shuō)，現(xiàn)場(chǎng)部署的測(cè)試系統(tǒng)（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限制—要求系統(tǒng)具有便攜式，并且具有高可靠性。：VIPER/T測(cè)試系統(tǒng)數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每個(gè)引腳的時(shí)序，多個(gè)時(shí)間集和靈活的定序器。
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